Na našich webových stránkách používáme soubory cookies. Některé z nich jsou nezbytné, zatímco jiné nám pomáhají vylepšit tento web a váš uživatelský zážitek. Souhlasíte s používáním všech cookies?

Vaše soukromí je důležité. Můžete si vybrat nastavení cookies níže.

Cookies nezbytné pro využívání e-shopu Toto nastavení nelze deaktivovat. Bez nezbytných cookies souborů nelze naše služby smysluplně poskytovat.

Marketingové cookies Díky těmto cookies můžeme zlepšovat výkon e-shopu, zobrazovat Vám relevantní reklamu na sociálních sítích a dalších reklamních plochách.

Analytické cookies Tyto cookies nám pomáhají pochopit, jak e-shop používáte. S jejich pomocí ho můžeme zlepšovat.

SILICON TEST SPECIMEN, INCIDENT L.M.

Kód produktu: 79502-20 Kód dodavatele: {4F25B2C7-773C-43AE-959B-CC27F2FF395E} Výrobce: Electron Microscopy Sciences

.

Zeptejte se odborníka
Sdílet

Sdílení produktu

URL adresa produktu zkopírována do schránky

Hodnocení produktu

Produkt zatím nikdo nehodnotil, buďte první!

Sdílení produktu

Hodnocení produktu